貴金屬檢測儀 銥元素檢測儀 型號：3600E

3600E型貴金屬檢測系統(tǒng)簡介
 3600E是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術(shù)進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，多種準直器與濾波片，再加上我公司專門開發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應(yīng)性。任何需要多元素同時分析的地方， 正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強，分辨率高，于各行業(yè)對不同元素進行無損檢測。在不同工作環(huán)境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。檢測性能*保證了符合中華人民共和國質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國標準化管理委員會2008年12月31日發(fā)布2009年7月1日實施GB/T 18043--2008標準對X射線熒光光譜分析儀：錳元素在5、89keV能量位置的峰，分辨率至少為200eV標準要求。并且其分辨率大大優(yōu)于“至少為200eV標準要求”。
 3600E型貴金屬檢測系統(tǒng)組成
 3600E型貴金屬檢測儀一臺
 貴金屬分析軟件一套
 密度分析軟件一套
 3600E型貴金屬檢測系統(tǒng)整體技術(shù)參數(shù)與指標
1.  分析元素范圍：鋁（Al）13號元素——鈾（U）92號元素
2.  元素分析含量范圍：50ppm到99.99%
3.  元素同時分析能力：28種元素
4.  測量樣品型態(tài)：固體，粉末，液體
5.  探測器：電制冷Si-PIN X-123一體化探測器
6.  X光管：低功率X射線管，使用水制冷系統(tǒng)，對各種元素激發(fā)效率更高
7.  電源：穩(wěn)定的長效電源Z大功率50W
廠商：威思曼公司
8. 密度法檢測系統(tǒng): 密度檢測以及檢測軟件一套,可對樣品的密度（比重）進行準確分析鑒定,從而實現(xiàn)對未知樣品內(nèi)部材料的定性定量分析（本系統(tǒng)具有性）
8.  定量分析方法：理論α系數(shù)法，多元回歸法，基本參數(shù)法，（國內(nèi)同行業(yè)采取此類綜合計算方法）
9.  定性分析方法：元素自動尋峰，Kl譜線標記法，峰譜比對法等
10. 硬件結(jié)構(gòu)：儀器雙箱體結(jié)構(gòu)，有效屏蔽干擾，增加儀器整體穩(wěn)定性
三重防輻射：配備光電快門裝置，更換樣品時X光管自動切斷電壓電流；樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；儀器多層屏蔽艙蓋，有效防止X射線外溢； 樣品成像定位系統(tǒng)：內(nèi)置自動感光高像素攝像頭及先進的定位軟件，方便樣品的局部定位測量
溫度控制系統(tǒng)：內(nèi)部風冷水冷雙循環(huán)冷卻，Z大限度降低X光管工作溫度延長光管使用壽命，且保證儀器長時間工作穩(wěn)定，測量精度準確
11. 操作軟件：開放的可供客戶自行開發(fā)和升級的工作軟件。銀，銅雙峰位同時校準，使儀器校準更加，隨時修正工作曲線，使測量結(jié)果達到Z高精度（同行業(yè)中采取此校準方法）.一鍵式操作模式更方便使用者
12. 測量精度：以黃金樣品為例
高含量樣品 （含量在97%以上）誤差±0.15 %
中高含量樣品（含量在75%以上）誤差±0.1-0.3%
低含量樣品 （含量在75%以下）誤差±0.3%
13. 測量黃金鉑金當中的銥元素，可測量2%左右的銥含量
14. 鍍層檢測：儀器可對不同基體上的不同鍍層進行檢測，并得出準確結(jié)果
 3600E型貴金屬檢測系統(tǒng)硬件技術(shù)規(guī)格
1.  外型尺寸：600mm×510mm×350mm 
2.  大樣品倉：方便大型樣品的檢測
關(guān)倉測量：330mm×340mm×115mm開倉測量：無限大
3. 儀器重量：50公斤
4. 工作環(huán)境溫度：15—28℃
相對濕度： ≤70%
電    源：交流 220V  50Hz
5.  工作環(huán)境相對濕度：≤70%
6.  元素分析范圍：鋁（Al）13號元素——鈾（U）92號元素
7.  含量分析范圍：50ppm到99.99%
8.  測量時間: 5秒到180秒可調(diào)，一鍵式快速測量，3.5秒可出結(jié)果,測量次數(shù)任意可調(diào),且在多次
測量時可做平均值及標準偏差測量
9.  激發(fā)源：低功率X射線管，使用水制冷系統(tǒng)，對各種元素激發(fā)效率更高
10. 電源：穩(wěn)定的長效電源Z大功率50W，電壓和電流從零至滿量程連續(xù)可調(diào)：Z大50KV，1mA
11. 探測器：美國Amptek公司
12. 整機分辨率：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率為155±10eV（*符合中華人民共和國質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國標準化管理委員會2008年12月31日發(fā)布；2009年7月1日實
施GB/T 18043--2008標準對X射線熒光光譜分析儀；錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少為200eV標準要求）
13. 多道分析器：2048道
 3600E型貴金屬檢測系統(tǒng)進口探測器性能指標
1.  廠商：美國Amptek公司
2.  探測器類型：電制冷Si-PIN X-123一體化探測器
3.  探測面積： 6mm2
4.  探測器窗口：鈹窗，25um厚
5.  硅活化區(qū)厚度：500um
6.  探測器分辨率：對于55Fe，@5.9keV  對于12us的形成時間，半高寬為149eV
 3600E型貴金屬檢測系統(tǒng)電源規(guī)格
1.  電壓和電流從零至滿量程連續(xù)可調(diào)：Z大50KV，1mA
2. 電壓調(diào)整率：負載調(diào)整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程0.01 %
3. 線性調(diào)整率：對于規(guī)定的輸入電壓范圍，該數(shù)值為滿量程0.01%
4. 電流調(diào)整率：負載調(diào)整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%
5. 線性調(diào)整率：對于規(guī)定的輸入電流范圍，該數(shù)值為滿量程0.01%
6. 穩(wěn)定性：經(jīng)過半小時預熱后，每8小時變化不0.05%
7. 溫度系數(shù)：溫度變化一度，電壓變化不過0.01%